Nachrichtentechnik - referat
Rauschen
Rauschen
1 Allgemein
Für das Rauschen ist nur der Realteil verantwortlich.
Ansatz von Einstein 1906
Gleichverteilungssatz der Energie wird auf den Energieinhalt eines geladenen Kondensators angewandt.
Tabsolute Temperatur [K]
( T[K] = T[ C]
kBoltzmannkonstante
Energie eines Kondensators:
mittleres Schwankungsquadrat der Kondensatorspannung
Gedankenmodell
I
Rausch- R U
quelle C
Die Rauschstromquelle hat ein Spektrum von
Annahme: Das die Spannungsschwankung U(t) an einem Kondensator C durch in einem Widerstand R fluktuierende Elektron hervorgerufen werden (thermische Wechselwirkung mit Raumgittern)
S(w spektrale Leistungsdichte
w [Hz]
S(w
dw w
Substitution
Ansatz:
S(w
g
w
Schwankungsquadrat der Spannung
an C.
df.Bandbreite
.Nyquistformel
Rauschstrom des Widerstandes
T0 = 300K ( 27°C)
k Boltzmannkonstante
Ersatzschaltbild:
Größengleichung von Nyquist
T0 Raumtemperatur (T0 = 273 + 27°C = 300K)
R . [MW
Df Bandbreite (Df = 1KHz )
Ur = 4,07mV
S(w = S0 = const. Korrektur über Temperatur
Korrektur:
Planck Konstante
statistisch unabhängige Rauschquelle:
Geg.: UR1, UR2
Uges = UR1 + UR2 FALSCH!
Rauschzahl und Signal/Noise ( S/N ), Messung von F
F Rauschzahl einer Stufe
P1.. Nutzeingangsleistung
p1.. Störeingangsleistung
P2.. Nutzausgangsleistung
p2.. Störausgangsleistung
pzStörleistung der Stufe selbst
v.Leistungsverstärkung der Stufe
p0 = 0 T Fmin = 1
Messung der Rauschzahl
2.1.1 Messung mit Hilfe eines Rauschgenerators
Die zu messende Stufe (DUT) wird mit einem Rauschgenerator angesteuert. Bei Anpassung am Eingang der Stufe, kann die maximale Rauschleistung übertragen werden (Herleitung siehe später).
Def.: F - 1zusätzliche Rauschzahl einer Stufe Fz
F = 1 ideale Stufe Fz = 0 (F - 1 !)
stufenlos regelbar in
T p2
p1 Rz
Der Rauschgenerator wird so geregelt, daß am Ausgang die doppelte Leistung auftritt.
T p2
Rz
Als "Nutzsignal" wird eine Rauschleistung dem DUT angeboten.
P1ärauschäquivalente Leistung am Eingang
damit gilt:
Die am Generator eingestellte Zahl n entspricht exakt der Rauschzahl.
Um die Rauschzahl F einer Stufe zu bestimmen, stellt man die rauschäquivalente Leistung
P1a = P1 so ein, daß dadurch die Gesamtleistung am Ausgang der Stufe gegenüber dem Fall
fehlender Nutzleistung ( P1 = 0 ) verdoppelt wird .
Die Rauschzahl F ("Noise Figure") wird üblicherweise in dB angegeben:
S/N.Signal to Noise
Angabe in dB, zum Beispiel bei einem Verstärker
P1 pz P2 vLeistungsverstärkung des Vierpols (VP)
p1 v p2
Bemerkung: Die Spannungsteilung durch zum Beispiel Anpassung oder auch Fehlanpassung am Eingang oder auch am Ausgang des Vierpols ist für S und N gleich fällt damit bei der Verhältnisbildung heraus
Es gilt:
z.B.: Anpassung am Eingang des Vierpols mit rauschendem ohmschen Widerstand
Messung mit dem Spektrumanalyser
S1/N1 S0/N0
BdBandbreite
GdLeistungsverstärkung
2.1.2.1 Definition der Rauschzahl
N0Ausgangsrauschleistung, wobei der Eingang mit Zi = ZG abgeschlossen wird
k Boltzmannkonstante
T absolute Temperatur (T0 = 290 K)
Der Formfaktor 1,2 ermöglicht die Umrechnung der Auflösungsbandbreite des Analyzers auf die Rauschleistungsbandbreite (Rechteck ). Ferner berücksichtigt der Korrekturterm 1,7dB auch den Fehler des log. Verstärkers für Rauschen (2,5dB).
Noise Power Band- width
Meßaufbau
a) Messung der Systemverstärkung Gd + Gp (Gp falls ein Vorverstärker vorhanden ist). Üblicherweise ist der Abschwächer (Attn.) im Signalgenerator.
b) Den Generator von der Meßanordnung abziehen und den offenen Eingang mit ZG (50 Ohm) abschließen. Mit der höchsten Analyzer - Empfindlichkeit ist dann der Ausgangsrauschpegel N0 zu messen.
Zwecks Impedanzanpassung an den Analyzerinput (50 Ohm) wird zwischen Analyzer und Meßobjekt (DUT) ein Oszilloskop mit einem Y-Output eingeschliffen (Zin = 10 MW, Zout = 50 W
Messung von G (in dB):
Stellung 2 mit Referenzpegel -10dBm den Pegel messen (-10 dBm max Pegel)
Stellung 1 mit obiger Empfindlichkeit den Pegel in dB ermitteln
Die Differenz aus Messung 1 und 2 ergibt die Verstärkung Gd + Gp in dB (Gp falls ein Vorverstärker vorhanden ist).
In der Stellung 2 den Signalgenerator abstecken und den Eingang mit RG = 50 W abschließen. Analyzer Empfindlichkeit auf 0dBm stellen.
Der Ausgangsrauschpegel N0 ist abzulesen.
2.2 Maximal abgebbare Rauschleistung bei Anpassung
R
Leistungsanpassung
RL RL =R
Pmax an RL:
Maximal abgebbare Rauschleistung eines ohmschen Widerstandes bei Anpassung
Bemerkung: Die Bewertungsbandbreite B (Df) geht unmittelbar in das S/N - Verhältnis ein. Eine S/N - Ausgabe ohne Bandbreite B gestattet keine Aussage über die Güte des Vierpols (z.B. Verstärker).
2.3 Rauschzahl (Systemrauschzahl) Ft bei der Kettenschaltung von Vierpolen
S Signal Fi.. Rauschzahl der Einzelvierpole
N.. Noise Gi.. Gain (Leistungsverstärkung) der Einzelvierpole
2.3.1 einzelne Stufe
Leistungsanpassung am Eingang
F
Ri Ra
G
S1 S2
N1 N2
Gain G
Rauschbeitrag des Verstärkers
2.3.2 Systemrauschzahl für zwei Stufen
F1 F2
Ri G1 G2 Ra
allgemein G1>>
Aussage: Die Systemrauschzahl wird hauptsächlich von der ersten Stufe der Kettenschaltung bestimmt. Das heißt die erste Stufe sollte die kleinste Rauschzahl mit der größten Verstärkung besitzen.
F1min, G1>> T Ft F1min
2.3.3 Kettenschaltung von n - Vierpolen
Rauschmaß
Um das Systemrauschen einer Kettenschaltung von Vierpolen beurteilen zu können, ist es günstig, eine neue Größe, das sogenannte RAUSCHMAß, einzuführen.
VP1 VP2 VP2 VP1
F1,2 F2,1
Hat zum Beispiel der VP1 eine kleinere Rauschzahl als VP2, so muß die Gesamtrauschzahl F1,2 nicht kleiner sein als F2,1, da die Verstärkung ebenfalls eingeht.
Mit Gi 1 wird für die einzelnen Vierpole das sogenannte Rauschmaß eingeführt.
Es gilt: i = 1n
nAnzahl der Vierpole
Das Systemrauschen wird ein Minimum, wenn der Vierpol mit dem geringsten Rauschmaß M an erster Stelle steht.
Klassifizierung des Rauschens
Thermisches Rauschen
Berechnung mit der Nyquist - Gleichung
Schrotrauschen ("Shot noise")
Hier treten Stromschwankungen im Zeitbereich bzw. Quantisierte Ladungsbewegungen im "Nichtgleichgewichtsfall" auf. Diese Rauschart hat Bedeutung bei den aktiven Bauelementen ( Transistor, Röhren ). Tritt auch bei passiven Bauelementen auf, die nicht im thermischen Gleichgewichtszustand arbeiten.
4.3 Sperrschicht -, Generations - und Rekombinationsrauschen
Halbleiterzonen ( Sperrschichten ) sind im allgemeinen nicht im Gleichgewichtszustand.
Flußzustanderhöhte Rekombination T Damit kommt es zu
Sperrzustanderhöhte Paarerzeugung T Ladungsschwankungen im
Zeitbereich ( Rauschen )
Stromverteilungsrauschen
Anderung der Stromdichte im Zetibereich
4.5 Funkelrauschen ("Flicker noise")
Oberflächeneffekte bei zum Beispiel Halbleiterbauelementen, die zu einer statistischen Stromdichteschwankung führen ( fluktuierende Umladungen von Oberflächenzuständen ).
Langsame Vorgänge Bei Halbleiterbauelementen steigt mit Verkleinerung der Frequenz die spektrale Rauschleistungsdichte; Anstieg erfolgt mit 1/f. Dies hat Bedeutung bei Niederfrequenzverstärkern.
weißes Rauschen
fE f
fEFrequenz bei der sich Funkelrauschen aus dem weißen Rauschen hervorhebt.
|
Röhren |
Bipolare - TR |
J - FET |
MISFET |
fE |
1kHz - 10kHz |
100Hz - 1kHz |
100Hz |
100kHz -10MHz |
MISFETMetall - Isolator - Semiconductor
4.6 Kontaktrauschen
Bei I = const. Wird UK mit dem sich zeitlich ändernden Kontaktwiderstand RK moduliert.
4.7 Stromrauschen
Das Stromrauschen ist so ähnlich wie das Kontaktrauschen. Bei Halbleiterbauelementen tritt eine Anderung der Stromdichte im Leiter selbst auf ( Belastungsrauschen! ).
Fluktuierende Anderung der Trägerdichten dn und dp; ähnlich wie beim Funkelrauschen tritt auch hier ein Anstieg der spektralen Rauschleistungsdichte bei niedrigen Frequenzen auf.
Quantenrauschen
Tritt bei Fotoemission und Absorption auf, z.B. bei Fotodioden ( Lichtempfänger ), Laser etc.
Tafelbild
Nyquistformel:
Messung der Rauschzahl mit Hilfe eines Rauschgenerators:
T p2
Rz
Messung der Rauschzahl mit Hilfe des Spektrum Analyzers
Systemrauschzahl bei der Kettenschaltung von zwei Vierpolen
Rauschmaß
VP1 VP2 VP2 VP1
F1,2 F2,1
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